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サンプルを上側から観察する幅広い用途に使える正立型工業用顕微鏡です。
金属や電子部品など幅広い用途に利用されます。
フレームタイプ、レンズ、ステージ、その他の数多くのオプション品の中から、用途に合わせた最適なシステムを構築することが出来ます。
蛍光観察法、微分干渉観察法、暗視野観察法の観察性能の向上はもとより、標本の深さ、厚さ、形態などの特性にあわせた、多様なサンプルに対応可能です。